🧪 kosha2010_044_045
📄 이 사건의 질병 레코드
⚗️ 유해물질 측정 0건
측정정보가 없습니다.
📅 노출기간 2건
| 시작시기 | 종료시기 | 총기간 | 빈도 | 원문 인용 |
|---|---|---|---|---|
| 2000년 7월 4일 | 2002년 2월 (퇴직) | 16개월 | — | 유○○는 2000년 7월 4일 A전자(주) 반도체 공장에 입사하여 검사공정에서 근무도중 2001년 11월 쉽게 멍이 드는 증상으로 내원했다가 재생불량성 빈혈로 진단을 받았다. |
| — | — | 16개월 | — | A 전자 공장에 입사하여 16개월 간 고열 테스트공정에 근무하던 중 16개월 후 재생불량성빈혈로 진단되었는데 |
🏭 작업환경 1건
| 공정 | 환기설비 | 환기 불량한 공간 | 원문 인용 |
|---|---|---|---|
| 보드에 칩을 끼우거나 빼내며, 125℃의 열을 가해 초기 불량을 검사하여 제거하는 업무 | — | — | 작업내용은 보드에 칩을 끼우거나 빼내며, 125℃의 열을 가해 초기 불량을 검사하여 제거하는 업무이다. 원자재나 화학물질 등의 사용물질이 없었고 조립이 끝난 제품(반도체 칩)에 열을 가하는 공정이다. |
🦺 보호구 0건
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