🧪 kosha2010_063_064
유해물질 노출 기록 0건
측정정보가 없습니다.
📅 노출기간 2건
| 시작시기 | 종료시기 | 총기간 | 빈도 | 원문 인용 |
|---|---|---|---|---|
| 1997년 5월 | 2003년 7월 퇴사할때까지 | 약 6년 2개월 | — | Q반도체에서 1997년 5월∼2003년 7월 퇴사할때까지 약 6년 2개월간 검사공정에서 근무를 하였다. |
| — | — | — | 3조3교대 | 근무형태는 3조3교대였고, 보드에 반도체 칩을 심고 해당 보드를 고온 챔버에 넣고 고온 챔버 내에 전류가 흐른 상태에서 |
🏭 작업환경 3건
| 공정 | 환기설비 | 환기 불량한 공간 | 원문 인용 |
|---|---|---|---|
| 검사공정 — 보드에 반도체 칩을 심고 해당 보드를 고온 챔버에 넣고 고온 챔버 내에 전류가 흐른 상태에서 제품(디바이스)사양을 입력하여 정해진 시간과 온도로 제품을 고온으로 구워서 테스트, 약 30대 정도의 챔버를 담당 | — | — | 보드에 반도체 칩을 심고 해당 보드를 고온 챔버에 넣고 고온 챔버 내에 전류가흐른 상태에서, 제품(디바이스)사양을 입력하여 정해진 시간과 온도로 제품을고온으로 구워서 테스트 하는 것으로 약 30대 정도의 챔버를 담당하였다. |
| 불량품 연소시 냄새 노출, 챔버를 열면 역겨운 냄새에 노출, 거친 보드판에 접촉시 검은 분진에 노출 | — | — | 불량품 연소시 나는 냄새뿐 아니라 양품의 경우에도 챔버를열면 역겨운 냄새에 노출, 거친 보드판에 접촉시 검은 분진에 노출 되었다. |
| 작업환경측정 미시행 (소음 이외) | — | — | 이공정은 직접 취급 유해물질 없어 작업환경측정은 소음 이외의 요인에 대해 시행하지 않았다. |
🦺 보호구 0건
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