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🧪 kosha2011_026_027

epiedit 검토 완료 최종데이터 (읽기 전용) · 측정정보 최종수정 2026-07-18 (kyw)

📄 이 사건의 질병 레코드

다발경화증 / 전자 부품 및 제품 제조 기계 조작원 / IDS 1043

⚗️ 유해물질 측정 1건

측정시기 물질 농도 단위 원문 인용
1997년 하반기
→ 납 및 그 무기화합물 · CAS 7439-92-1 · IARC 2B
0.001~0.003 mg/m³
1997년 하반기 LCD모듈 rework공정(불량품 수동납땜)에서 이루어진 작업환경측정결과는 납농도 0.001~0.003 mg/m3으로 측정되었다.

📅 노출기간 2건

시작시기 종료시기 총기간 빈도 원문 인용
1997년 2000년 6월 상병휴직시까지 약 3년
1997년부터 □사업장에 입사하여 LCD모듈공정에서 OLB작업을 몇 달 한 후 2000년6월 상병휴직시까지 TAB solder작업을 담당하였다
8시간 근무후 불량품수동납땜을 위한 4시간 연장근무를 평균 주2회 정도
기본적으로 8시간 근무후 불량품수동납땜을 위한 4시간 연장근무를 평균 주2회 정도 시행하였다

🏭 작업환경 2건

공정 환기설비 환기 불량한 공간 원문 인용
OLB 공정에서 불량인 판넬의 ACF를 지우기 위해 아세톤으로 닦고 ACF가 붙을 자리를 IPA로 닦는 작업
OLB 공정에서는 불량인 판넬은 ACF(에폭시수지 함유량 26%) 등을 지우기 위해 아세톤으로 닦고 ACF가 붙을 자리를 IPA로 닦는 일을 하였고
TAB solder 공정에서 불량이 생긴 판넬을 수동으로 납땜하는 작업
TAB solder 공정에서는 불량이 생긴 판넬을 수동으로 납땜하는 작업을 하였다

🦺 보호구 0건

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