🧪 kosha2017_030_031
📄 이 사건의 질병 레코드
⚗️ 유해물질 측정 5건
| 측정시기 | 물질 | 농도 | 단위 | 원문 인용 |
|---|---|---|---|---|
| 불명 |
극저주파 자기장(ELF-MF)
→ 극저주파 자기장 · IARC Group 2B
맥락: ELF-MF
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최대 18.5 | µT | ELF-MF 측정결과 최대 18.5 μT로 ICNIRP 및 ACGIH의 직업인 노출기준인 1,000 μT 보다 매우 낮은 수준이었다. |
| 불명 |
포름알데히드
→ 포름알데히드 · CAS 50-00-0 · IARC 1
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0.005 | ppm | 작업환경측정결과 포름알데히드의 농도는 0.005ppm으로 노출기준(0.3ppm)에 비해 매우 낮았고, 그 외 물질은 모두 불검출이었다. |
| 불명 |
벤젠
→ 벤젠 · CAS 71-43-2 · IARC 1
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불검출 | — | 고온 환경으로 인해 디스플레이에서 발생 가능한 부산물로 벤젠, 산화에틸렌, PAH 포름알데히드 등이 노출될 수 있으나 … 그 외 물질은 모두 불검출이었다. |
| 불명 |
산화에틸렌
→ 산화에틸렌 · CAS 75-21-8 · IARC 1
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불검출 | — | 고온 환경으로 인해 디스플레이에서 발생 가능한 부산물로 벤젠, 산화에틸렌, PAH 포름알데히드 등이 노출될 수 있으나 … 그 외 물질은 모두 불검출이었다. |
| 불명 |
PAH
→ 다환방향족탄화수소 · IARC Group 1
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불검출 | — | 고온 환경으로 인해 디스플레이에서 발생 가능한 부산물로 벤젠, 산화에틸렌, PAH 포름알데히드 등이 노출될 수 있으나 … 그 외 물질은 모두 불검출이었다. |
📅 노출기간 1건
| 시작시기 | 종료시기 | 총기간 | 빈도 | 원문 인용 |
|---|---|---|---|---|
| 2001년 1월 | — | 14년간 | — | 근로자는 2001년 1월 □사업장에 입사하여 S/W 엔지니어로 14년간 근무하였다.
근로자는 약 14년 2개월간 디스플레이 사업부에서 소프트웨어(S/W) 엔지니어로서 TV 소프트웨어 개발 및 불량검사, 고온테스트 등을 수행하였다.
고온테스트실에 출입하는 빈도는 H/W 부에서 요청이 올 때마다 간헐적이고 부정기적으로 이루어진 것으로 파악되었다. |
🏭 작업환경 2건
| 공정 | 환기설비 | 환기 불량한 공간 | 원문 인용 |
|---|---|---|---|
| TV 소프트웨어 개발 및 불량검사 | — | 개방 | 작업 형태는 일반 사무실 공간에서 책상에 2~3대의 TV를 올려 두고 TV 뒷면을 개방하여 케이블을 꽂아 컴퓨터 보드와 연결해서 모니터를 보거나 TV를 계속 켜놓은 상태에서 시간별 재생(구현) 상태를 확인하여 다운로드 S/W, 처리 S/W를 통한 설계 및 동작 가이드 개발 등을 하였다. |
| 고온테스트 시 소프트웨어 문제를 해결하는 업무; 챔버와 연결된 컴퓨터를 통해 데이터 로깅 | — | — | 고온테스트실 내부에는 4대의 온/습도 챔버가 가동되고 있었으며 고온테스트 중 발생한 문제가 H/W부에서 해결되지 않고 S/W 결함으로 의심될 경우 S/W엔지니어를 호출하여 소프트웨어를 확인하게 된다. 이때 S/W 엔지니어가 고온테스트실로 와서 챔버와 연결된 컴퓨터를 통해 데이터 로깅을 한다고 한다. |
🦺 보호구 0건
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