🧪 kosha2020_042_043
⚗️ 유해물질 측정 4건
| 측정시기 | 물질 | 농도 | 단위 | 원문 인용 |
|---|---|---|---|---|
| 불명 |
전리방사선
→ 전리방사선 · IARC Group 1
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0~0.13 | µSv/h | 사업장에서 제출받은 최근 5년간의 6-1라인 XRF장비의 전리방사선 측정 결과 0~0.13 μSv/hr 범위로 원자력안전법의 일반인 선량한도(1 mSv/yr) 미만으로 확인되었다. |
| 2018년 |
극저주파자기장
→ 극저주파 자기장 · IARC Group 2B
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1 미만 | µT | 2018년 실시한 XRF장비 전후면의 극저주파자기장은 모두 1 μT 미만으로 비전리방사선에 의한 노출수준은 낮았다. |
| 불명 |
극저주파 자기장
→ 극저주파 자기장 · IARC Group 2B
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15.3 | µT | 문헌에서 반도체 제조 근로자의 극저주파 자기장 노출 수준을 확인하였을 때, 최대 15.3 μT, 8hr-TWA 0.67 μT로 ACGIH 및 ICNRIP 기준에 비해 낮은 수준으로 근로자의 극저주파자기장 노출수준은 낮았을 것으로 추정된다. |
| 불명 |
극저주파 자기장
→ 극저주파 자기장 · IARC Group 2B
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0.67 | µT | 문헌에서 반도체 제조 근로자의 극저주파 자기장 노출 수준을 확인하였을 때, 최대 15.3 μT, 8hr-TWA 0.67 μT로 ACGIH 및 ICNRIP 기준에 비해 낮은 수준으로 근로자의 극저주파자기장 노출수준은 낮았을 것으로 추정된다. |
📅 노출기간 1건
| 시작시기 | 종료시기 | 총기간 | 빈도 | 원문 인용 |
|---|---|---|---|---|
| 1991년 | — | 4년 1개월 | — | 1991년 □사업장에 입사하여 4년 1개월간 품질관리 부서와 제조부서에서 제품검사/보증, 계측기 검/교정 업무를 수행하였다. |
🏭 작업환경 2건
| 공정 | 환기설비 | 환기 불량한 공간 | 원문 인용 |
|---|---|---|---|
| 품질관리 부서와 제조부서에서 제품검사/보증, 계측기 검/교정 업무 | — | — | 1991년 □사업장에 입사하여 4년 1개월간 품질관리 부서와 제조부서에서 제품검사/보증, 계측기 검/교정 업무를 수행하였다. |
| XRF 데일리 체크업무, PM작업 | 불명 | — | 과거 차폐가 제대로 이루어지지 않았거나 PM작업 시 근처에서 머물렀다 하더라도 근로자가 XRF를 취급한 전체 기간은 약 1년 3개월이며, 데이 근무 시에 한해 수행한 데일리 체크업무에서 15~20분 정도, 하루 중 XRF 검사 빈도 최대 3~4회라는 점 |
🦺 보호구 0건
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